一种掩模版及光刻机能量的监控系统
授权
摘要

本实用新型提供了一种掩模版及光刻机能量的监控系统。其中,在掩模版上,具有至少一个掩模图形组,每个所述掩模图形组包括多个形状相同且尺寸不同的掩模图形,用于获取各个掩模图形在基板上得到相同尺寸的图形所对应的多组曝光能量,以得到多个掩模图形的掩模尺寸和多组曝光能量的对应关系,即可以通过掩模版上的多个形状相同且尺寸不同的掩模图形得到不同尺寸间的能量变化范围。从而,在将该掩模版应用于光刻机能量的监控系统中时,即可基于多个掩模图形的掩模尺寸和多组曝光能量的对应关系,通过测量装置自动判断出光刻机的实际能量是否发生偏移,操作便捷、快速,且大大降低了失误风险,有助于保证产品质量。

基本信息
专利标题 :
一种掩模版及光刻机能量的监控系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122953922.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-29
授权号 :
CN216748435U
授权日 :
2022-06-14
发明人 :
张龙王晓龙
申请人 :
上海华力微电子有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区良腾路6号
代理机构 :
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
周耀君
优先权 :
CN202122953922.2
主分类号 :
G03F1/00
IPC分类号 :
G03F1/00  G03F1/44  G03F7/20  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G03
摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F
图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1/00
用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
法律状态
2022-06-14 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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