本实用新型涉及碳化硅晶体加工检测装置领域，具体涉及一种碳化硅单晶检测用显微镜的检测平台，包括定位底座、旋转承载盘、升降架和显微透镜部，所述定位底座包括基板、竖直滑轨架、前后限位滑台和左右限位滑台，所述基板的上端面从下到上依次层叠设置有前后限位滑台和左右限位滑台，所述旋转承载盘固定设置于所述左右限位滑台的顶部，所述基板为矩形板状结构且一端固定设置有竖直滑轨架，所述升降架的一端与所述竖直滑轨架限位连接且另一端与所述显微透镜部连接，本装置操作简单、检测方便、效率高、检测均布及重复性高，极大提高了碳化硅单晶检测用显微镜设备的利用率，优化资源配置，提高了显微镜使用效果及使用效益。