半导体结构的制作方法
实质审查的生效
摘要

本公开提供了一种半导体结构的制作方法,包括:提供基底,基底上包括多个相邻之间形成接触孔的位线结构;于接触孔内形成初始接触层,初始接触层内包括缝隙;对初始接触层进行刻蚀,去除部分初始接触层,以形成第一接触层;对第一接触层进行刻蚀,以去除部分缝隙,被保留下来的第一接触层形成第二接触层;对第二接触层进行刻蚀,且对凹陷状的侧壁的刻蚀速率大于对凹陷状的底部的刻蚀速率,以去除剩余缝隙,并形成第三接触层。本公开通过对初始接触层进行多次刻蚀,并控制对第二接触层的边侧位置的刻蚀速度大于对第二接触层中间位置处的刻蚀速率,从而形成顶部形貌平坦化的接触层,进而提高半导体结构的良率和导电性。

基本信息
专利标题 :
半导体结构的制作方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114361112A
申请号 :
CN202210036749.6
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2022-01-13
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
锁浩纪刚巩金峰
申请人 :
长鑫存储技术有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
代理机构 :
北京名华博信知识产权代理有限公司
代理人 :
李俊红
优先权 :
CN202210036749.6
主分类号 :
H01L21/8242
IPC分类号 :
H01L21/8242  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/70
由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L21/77
在公共衬底中或上面形成的由许多固态元件或集成电路组成的器件的制造或处理
H01L21/78
把衬底连续地分成多个独立的器件
H01L21/82
制造器件,例如每一个由许多元件组成的集成电路
H01L21/822
衬底是采用硅工艺的半导体的
H01L21/8232
场效应工艺
H01L21/8234
MIS工艺
H01L21/8239
存储器结构
H01L21/8242
动态随机存取存储结构
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 21/8242
申请日 : 20220113
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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