半导体结构压紧组件与半导体结构固定装置
实质审查的生效
摘要
本发明涉及一种半导体结构压紧组件与半导体结构固定装置。半导体结构压紧组件包括:垫块、载体、受热膨胀件、连杆与弹性件。垫块的底面用于与芯片的顶面抵触。载体位于垫块的上方,载体设有在远离于垫块的方向上口径逐渐增大的通道。通过压紧于芯片的顶面来使得芯片在垂直方向上的定位。这样便无需因为测试温度发生改变而频繁地调节垫片厚度或者垫片数量,从而能大大提高测试效率;当芯片的厚度尺寸发生改变时,会通过垫块、连杆、受热膨胀件来使得弹性件的压缩量发生改变,垫块仍然能较为紧密地压紧芯片,保证芯片上在沿着垂直其表面的方向上的定位,从而便无需通过调节垫片厚度或者垫片数量来实现,能大大提高测试效率。
基本信息
专利标题 :
半导体结构压紧组件与半导体结构固定装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114414991A
申请号 :
CN202210056818.X
公开(公告)日 :
2022-04-29
申请日 :
2022-01-18
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
黄金荣
申请人 :
长鑫存储技术有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
代理机构 :
华进联合专利商标代理有限公司
代理人 :
周修文
优先权 :
CN202210056818.X
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-20 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20220118
申请日 : 20220118
2022-04-29 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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