一种FLASH芯片检测设备及其检测方法
实质审查的生效
摘要

本发明公开了一种FLASH芯片检测设备及其检测方法,涉及芯片检测技术领域。包括检测装置、连接插口和连接插头,所述检测装置的顶部固定有芯片插块,所述检测装置的底部固定有固定座,所述固定座的底部固定有移动底座。该FLASH芯片检测设备及其检测方法,当对检测装置进行移动时,通过将连接插头插进连接插口中,进而可以启动气缸,使活塞杆向下移动,进而使吸盘向下移动与地面贴合对检测装置进行支撑,当吸盘远离推杆时,因第二弹簧处于压缩状态,通过限位机构的配合,使限位块向上移动,使限位块对连接座的右侧进行限位,防止不小心有人拉扯到连接插头的连接线,使连接插头从连接插口中脱离,影响芯片的检测。

基本信息
专利标题 :
一种FLASH芯片检测设备及其检测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114487776A
申请号 :
CN202210080839.5
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-01-24
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
曾小帅汪艳许光明郭中祥曾团结位明明
申请人 :
视旗科技(深圳)有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市龙华区民治街道新牛社区民治大道与工业东路交汇处展滔科技大厦B座B2601
代理机构 :
深圳市中科创为专利代理有限公司
代理人 :
冯建华
优先权 :
CN202210080839.5
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20220124
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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