SONOS器件的制造方法和SONOS器件
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种SONOS器件的制造方法和SONOS器件，提供衬底，衬底上形成有依次彼此相邻的cell区、第一至第三器件区；在衬底上形成第二栅氧化层，第二栅氧化层包括由下而上堆叠的底部氧化层、氮化层和顶部氧化层；刻蚀去除cell区的第二栅氧化层，在衬底上淀积覆盖cell区和第二栅氧化层的第四栅氧化层；刻蚀去除第一器件区的第二栅氧化层和第四栅氧化层，之后形成覆盖第一器件区的第一栅氧化层；刻蚀去除第二器件区和第三器件区的顶部氧化层和氮化层；刻蚀去除第三器件区上的底部氧化层，之后在第三器件区上形成第三栅氧化层。本发明的SONOS器件中，在每个器件区的表面分别形成有不同的栅氧化层，实现了不同器件栅氧化层的共存，提升了器件的速度和可靠性。
基本信息
专利标题 ：
SONOS器件的制造方法和SONOS器件
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114496798A
申请号 ：
CN202210097239.X
公开（公告）日 ：
2022-05-13
申请日 ：
2022-01-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
初靖蔡彬黄冠群
申请人 ：
上海华力集成电路制造有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区良腾路6号
代理机构 ：
上海浦一知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘昌荣
优先权 ：
CN202210097239.X
主分类号 ：
H01L21/336
IPC分类号 ：
H01L21/336 H01L27/11568 H01L29/792
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/02
半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21/04
至少具有一个跃变势垒或表面势垒的器件，例如PN结、耗尽层、载体集结层
H01L21/18
器件有由周期表Ⅳ族元素或含有/不含有杂质的AⅢBⅤ族化合物构成的半导体，如掺杂材料
H01L21/334
制造单极型器件的台阶式工艺
H01L21/335
场效应晶体管
H01L21/336
带有绝缘栅的
法律状态
2022-05-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 21/336
申请日 : 20220127
申请日 : 20220127
2022-05-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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