形成字线连接区的方法、半导体结构、存储器及存储系统
实质审查的生效
摘要

本申请的实施方式提供了一种形成字线连接区的方法、半导体结构、存储器及存储系统。形成字线连接区的方法包括:形成第一堆叠结构,第一堆叠结构包括通过堆叠栅极牺牲层和层间绝缘层形成的多个第一堆叠层;在第一堆叠结构表面上形成图形化的掩膜层,图形化的掩膜层中具有暴露出第一堆叠结构表面的多个开口,在垂直于所述第一堆叠结构的堆叠方向的平面上,至少两个开口的截面尺寸不同;通过多个开口在第一堆叠结构中形成多个接触孔,每个接触孔分别到达各自预定深度的栅极牺牲层;以及在每个接触孔中分别形成导电接触部。本申请的实施方式提供的形成字线连接区的方法可提高半导体结构的良率。

基本信息
专利标题 :
形成字线连接区的方法、半导体结构、存储器及存储系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114551343A
申请号 :
CN202210141421.0
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2022-02-16
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
谢炜徐玲王迪周文犀
申请人 :
长江存储科技有限责任公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区未来三路88号
代理机构 :
北京英思普睿知识产权代理有限公司
代理人 :
刘莹
优先权 :
CN202210141421.0
主分类号 :
H01L21/768
IPC分类号 :
H01L21/768  H01L23/538  H01L27/11568  H01L27/11582  G11C5/06  G11C8/14  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/70
由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L21/71
限定在组H01L21/70中的器件的特殊部件的制造
H01L21/768
利用互连在器件中的分离元件间传输电流
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 21/768
申请日 : 20220216
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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