一种芯片测试结果的可靠的数据传输验证方法
公开
摘要
本发明涉及晶圆测试技术领域，具体为一种芯片测试结果的可靠的数据传输验证方法，来料时获取客户提供的IQC数据，分析后存入测试厂系统中，测试晶圆生成数据后上传给客户，出货检验时上传OQC数据给客户，在出货时根据测试厂系统中的数据，整合IQC和OQC数据，生成GDC给客户，客户根据自家的IQC数据，结合测试厂生成的数据及OQC数据，计算出GDC，反馈给测试厂，测试厂判断GDC与客户是否一致，如果一致，可以出货，否则，重新上传数据后生成新的GDC与客户核对，核对一致才能出货，本发明同现有技术相比，通过对IQC和OQC数据以及GDC数据的对比匹配，实现了客户收到的数据和最终出货的Map图是完全一致的。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片测试结果的可靠的数据传输验证方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114625711A
申请号 ：
CN202210188380.0
公开（公告）日 ：
2022-06-14
申请日 ：
2022-02-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
侯义平邵嘉阳
申请人 ：
上海华岭集成电路技术股份有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路351号2号楼1、2、3、5、6楼
代理机构 ：
上海海贝律师事务所
代理人 ：
朱震林
优先权 ：
CN202210188380.0
主分类号 ：
G06F16/178
IPC分类号 ：
G06F16/178 H04L67/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算；推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F16/178
•••文件系统的文件同步技术
法律状态
2022-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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