一种芯片验证IP装置及其测试方法
实质审查的生效
摘要
本发明公开了一种芯片验证IP装置及其测试方法。验证IP包括主端单元组件、从端单元组件或系统环境，验证IP能实现以下功能：针对对应总线协议提供验证计划，验证计划包含端口信号翻转率、检查覆盖率和功能覆盖率；内置多个预定义事件触发；包含可以修改驱动器和监测器行为的回调函数；支持插入错误的激励；包含预定义的测试序列；利用VIP测试环境和配置项进行单元组件测试和系统环境测试。本发明开发出了能够在芯片UVM验证环境中集成的VIP，继而利用该VIP对芯片待测设计的对应总线接口进行测试和监测。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片验证IP装置及其测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114384403A
申请号 ：
CN202210281914.4
公开（公告）日 ：
2022-04-22
申请日 ：
2022-03-22
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘斌虞小鹏谭年熊
申请人 ：
浙江大学
申请人地址 ：
浙江省杭州市西湖区余杭塘路866号
代理机构 ：
杭州求是专利事务所有限公司
代理人 ：
林超
优先权 ：
CN202210281914.4
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G06F30/33
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-05-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20220322
申请日 : 20220322
2022-04-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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