一种增加白光干涉测量链路长度的装置及方法
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摘要
本发明公开了一种可以增加基于白光干涉原理测量DUT链路长度的装置及方法，属于光学测量领域，一路光信号分成N路信号，每一路光信号分别进行不同范围的移频后合到一路，改变光纤链路光程；另一路进入DUT链路，从DUT返回的回波信号与不同频率的白光混合信号发生拍频干涉；对拍频信号进行差频探测；对差频信号转化为待测DUT链路的回损‑位置曲线；控制每一路的长度差等于延迟的可移动量程，将白光干涉测量链路信号的测量范围提高N倍。本发明通过频域复用思想使得多路信号同时发生干涉的叠加混合信号在频域上分离，再反变换到时域信号，前后拼接，可得到N路拍频信号顺次拼接的总信号，此总信号即可实现原单路干涉时的测量范围的N倍。
基本信息
专利标题 ：
一种增加白光干涉测量链路长度的装置及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114337804A
申请号 ：
CN202210234765.6
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2022-03-11
授权号 ：
CN114337804B
授权日 ：
2022-05-20
发明人 ：
温永强王辉文张晓磊叶阳刘晓平
申请人 ：
武汉昊衡科技有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖新技术开发区东信路SBI创业街1栋9层02室
代理机构 ：
湖北武汉永嘉专利代理有限公司
代理人 ：
许美红
优先权 ：
CN202210234765.6
主分类号 ：
H04B10/077
IPC分类号 ：
H04B10/077 H04B10/25 G01J9/02
法律状态
2022-05-20 ：
授权
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04B 10/077
申请日 : 20220311
申请日 : 20220311
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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