一种低位错超高纯锗单晶的提拉方法
公开
摘要

本发明公开了一种低位错超高纯锗单晶的提拉方法,包括如下步骤:熔料、引晶、缩颈、放肩、等径、收尾和降温,在所述放肩与所述等径之间还包括如下步骤:放肩二:降低晶转速度和埚转速度,均匀升高拉速,按低降温频率控制均匀降温并保持一定时长,使得晶体直径逐渐长大至所述等径所需的晶体尺寸。在本方案中,通过先均匀降低晶转速度和埚转速度,均匀升高拉速;然后再降低频率均匀降温,使得晶体直径逐渐长大至所述等径所需的晶体尺寸,即为以便于使得晶体放肩和等径过程相衔接,使得晶体在此条件下会抑制界面的反转过程,防止晶体直径放肩后变细,晶体变得不规则,并防止晶体产生缺陷。

基本信息
专利标题 :
一种低位错超高纯锗单晶的提拉方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114574950A
申请号 :
CN202210277220.3
公开(公告)日 :
2022-06-03
申请日 :
2022-03-17
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
牛晓东狄聚青赵青松顾小英
申请人 :
安徽光智科技有限公司
申请人地址 :
安徽省滁州市琅琊经济开发区南京路100号
代理机构 :
北京集佳知识产权代理有限公司
代理人 :
陈志海
优先权 :
CN202210277220.3
主分类号 :
C30B15/20
IPC分类号 :
C30B15/20  C30B15/22  C30B29/08  
IPC结构图谱
C
C部——化学;冶金
C30
晶体生长
C30B
单晶生长;共晶材料的定向凝固或共析材料的定向分层;材料的区熔精炼;具有一定结构的均匀多晶材料的制备;单晶或具有一定结构的均匀多晶材料;单晶或具有一定结构的均匀多晶材料之后处理;其所用的装置
C30B15/00
熔融液提拉法的单晶生长,例如Czochralski法
C30B15/20
控制或调节
法律状态
2022-06-03 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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