测量固体表面速度变化的光干涉仪
专利权的终止
摘要
一种测量固体表面速度变化的光干涉仪。仪器中设置两条长短不同的光路系统，光源发出的光分别经过它们，以时间差τ值先后射到被测表面，当它们从表面返回干涉系统时，应用光的偏振特性，使之各自经过与入射光路长短相反的路径到达光电探测器，于是消除时间差τ而实现等光程干涉，干涉条纹的变化正比于表面速度的变化。测速变化范围3m/s-1000m/s，本发明具有量程大，成本低，使用方便的优点。
基本信息
专利标题 ：
测量固体表面速度变化的光干涉仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85104475A
申请号 ：
CN85104475.1
公开（公告）日 ：
1987-02-04
申请日 ：
1985-06-07
授权号 ：
CN85104475B
授权日 ：
1988-09-21
发明人 ：
张仲先
申请人 ：
浙江大学
申请人地址 ：
浙江省杭州市玉泉
代理机构 ：
浙江大学专利代理事务所
代理人 ：
陈祯祥
优先权 ：
CN85104475.1
主分类号 ：
G01S17/58
IPC分类号 ：
G01S17/58
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01S
无线电定向；无线电导航；采用无线电波测距或测速；采用无线电波的反射或再辐射的定位或存在检测；采用其他波的类似装置
G01S17/00
应用除无线电波外的电磁波的反射或再辐射系统，例如，激光雷达系统
G01S17/02
应用除无线电波外的电磁波反射的系统
G01S17/50
根据目标的相对运动的测量系统
G01S17/58
速度或轨迹测定系统；运动测定系统的检测
法律状态
1990-09-12 ：
专利权的终止
1989-08-16 ：
授权
1988-09-21 ：
审定
1987-02-04 ：
公开
1986-10-15 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
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2、
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