磁记录介质耐磨性快速测试装置
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
计算机控制的磁记录介质耐靡性快速测试装置，将磁头与介质以一定压力相接触往复机械谐振加速磨损过程。音圈电机推动装载磁头的小车作筒谐振动，试样置于可沿Ｘ、Ｙ、Ｚ三向移动并可绕Ｚ轴转动的工作台上，上述部分均位于防振机座上。计算机控制磁头驱动电路、数据读写电路，并对读出信号采样及处理。本装置可测试不同厚度的小试样或盘状样品，加剧介质磨损１００倍左右，极大缩短试验周期，可应用于耐磨性试验，快速检测磁盘膜层寿命等多种用途。
基本信息
专利标题 ：
磁记录介质耐磨性快速测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1068656A
申请号 ：
CN91104723.9
公开（公告）日 ：
1993-02-03
申请日 ：
1991-07-09
授权号 ：
CN1053962C
授权日 ：
2000-06-28
发明人 ：
裴先登谢其中王立环谢长生赵永龙
申请人 ：
华中理工大学
申请人地址 ：
430074湖北省武汉市武昌珞喻路151号
代理机构 ：
华中理工大学专利事务所
代理人 ：
方放
优先权 ：
CN91104723.9
主分类号 ：
G01N3/56
IPC分类号 ：
G01N3/56 G11B27/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N3/54
••在高温或低温下进行试验
G01N3/56
测试抗磨损或腐蚀
法律状态
2001-09-05 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
2000-06-28 ：
授权
1993-02-03 ：
公开
1992-09-30 ：
实质审查请求已生效的专利申请
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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