用于真空处理装置的腔室以及具有该腔室的装置
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
摘要

本发明公开了一种真空处理装置,尤其是涉及一种用于对例如液晶显示(LCD)板的玻璃、半导体的晶片等的基板进行蚀刻处理或者沉积处理的装置。还公开了一种真空处理装置的腔室,其包括:一个具有多边形外形的腔室主体;至少一个与腔室主体的一个侧壁可拆卸地连接的侧壁单元,在平行于腔室主体的上表面方向上具有一定曲率的水平部分;一个上部面板单元和一个下部面板单元,上部面板单元和下部面板单元分别地与腔室主体和侧壁单元的上部以及下部可拆卸地连接,以覆盖腔室主体和侧壁单元上部和下部。

基本信息
专利标题 :
用于真空处理装置的腔室以及具有该腔室的装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN1913099A
申请号 :
CN200610002076.3
公开(公告)日 :
2007-02-14
申请日 :
2006-01-24
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
曹生贤李珠熙韩在柄
申请人 :
IPS有限公司
申请人地址 :
韩国京畿道
代理机构 :
北京中安信知识产权代理事务所
代理人 :
张小娟
优先权 :
CN200610002076.3
主分类号 :
H01L21/00
IPC分类号 :
H01L21/00  H01L21/20  H01L21/3065  H01L21/67  C23C16/44  C23C14/22  C23F4/00  
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
法律状态
2016-08-17 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101737515950
IPC(主分类) : H01L 21/00
专利号 : ZL2006100020763
变更事项 : 专利权人
变更前 : 圆益IPS股份有限公司
变更后 : 圆益控股股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 韩国京畿道
变更后 : 韩国京畿道平泽市漆怪街78-40(芝制洞)
2016-08-17 :
专利申请权、专利权的转移
专利权的转移号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101737515951
IPC(主分类) : H01L 21/00
专利号 : ZL2006100020763
登记生效日 : 20160729
变更事项 : 专利权人
变更前权利人 : 圆益控股股份有限公司
变更后权利人 : 圆益IPS股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前权利人 : 韩国京畿道平泽市漆怪街78-40(芝制洞)
变更后权利人 : 韩国京畿道平泽市振威面振威产团路75
2012-02-15 :
专利权人的姓名或者名称、地址的变更
号牌文件类型代码 : 1602
号牌文件序号 : 101280128330
IPC(主分类) : H01L 21/00
专利号 : ZL2006100020763
变更事项 : 专利权人
变更前 : IPS有限公司
变更后 : 圆益IPS股份有限公司
变更事项 : 地址
变更前 : 韩国京畿道
变更后 : 韩国京畿道
2008-08-13 :
授权
2007-04-11 :
实质审查的生效
2007-02-14 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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