半导体分离器件外壳封装结构
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了一种半导体分离器件外壳封装结构,本实用新型在底板上设有框架,在框架的一侧壁上设有伸入到框架内部并固定在框架上的引线,在框架的空腔中设有与底板连接的陶瓷片;所述框架,设有引线一端侧壁的壁厚大于其它端侧壁的壁厚。通过以上设置,本实用新型达到了减小器件外壳占用面积,减少体积,提高散热均匀性,提高外壳耗散功率,便于批量封装生产半导体分离器件方形功率金属外壳的结构,可广泛应用于电子封装领域。

基本信息
专利标题 :
半导体分离器件外壳封装结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200620011249.3
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2006-10-27
授权号 :
CN201051496Y
授权日 :
2008-04-23
发明人 :
封煜新
申请人 :
封煜新
申请人地址 :
262200山东省潍坊市诸城市兴华西路48号
代理机构 :
潍坊正信专利事务所
代理人 :
张曰俊
优先权 :
CN200620011249.3
主分类号 :
H01L23/04
IPC分类号 :
H01L23/04  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L23/00
半导体或其他固态器件的零部件
H01L23/02
容器;封接
H01L23/04
按外形区分的
法律状态
2011-12-28 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止号牌文件类型代码 : 1605
号牌文件序号 : 101162110604
IPC(主分类) : H01L 23/04
专利号 : ZL2006200112493
申请日 : 20061027
授权公告日 : 20080423
终止日期 : 20101027
2008-04-23 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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