一种测试系统芯片上的人工智能模块的方法和系统芯片
授权
摘要
一种测试系统芯片上的人工智能AI模块的方法及系统芯片。在实施例中，系统芯片包括：AI模块，包括排列成二维阵列的多个处理单元，各处理单元能够完成逻辑和/或乘加运算；FPGA模块，其中，FPGA模块经接口模块与AI模块连通；FPGA模块中部分模块配置为对AI模块进行检测的检测功能；和，JTAG接口，用于根据指令启动检测功能，以便对AI模块进行测试。将FPGA与AI模块集成在同一芯片上时，AI模块的输出/输入信号可以很好的找到相应的FPGA连接点。同时，可以配置FPGA为测试电路，由此可以节约成本和提高测试速度。
基本信息
专利标题 ：
一种测试系统芯片上的人工智能模块的方法和系统芯片
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN109884499A
申请号 ：
CN201910103651.6
公开（公告）日 ：
2019-06-14
申请日 ：
2019-02-01
授权号 ：
CN109884499B
授权日 ：
2022-04-15
发明人 ：
连荣椿王海力马明
申请人 ：
京微齐力(北京)科技有限公司
申请人地址 ：
北京市海淀区知春路63号卫星大厦9层901-903
代理机构 ：
北京亿腾知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
陈霁
优先权 ：
CN201910103651.6
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-04-15 ：
授权
2019-07-09 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20190201
申请日 : 20190201
2019-06-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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