堆叠式多对晶圆键合装置及键合方法
授权
摘要

本发明提供了一种堆叠式多对晶圆键合装置及键合方法,该键合装置包括键合腔室以及堆叠设置于键合腔室内的多个卡盘组件,每个卡盘组件包括用于装载一对晶圆的卡盘、用于将该对晶圆中间隔开的间隔片以及用于将该对晶圆固定在卡盘上的夹锁,还包括位于键合腔室内的底部控温承重组件以及上部控温施压组件,所述底部控温承重组件位于最下面的卡盘的底部,所述上部控温施压组件位于最上面的卡盘的上方,位于最下面的卡盘上方的各所述卡盘均通过加热丝和控温热电偶与所述底部控温承重组件连接。本发明能够减小晶圆级键合的成本,可以很大程度上提高键合的工作效率,提高生产效率。

基本信息
专利标题 :
堆叠式多对晶圆键合装置及键合方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110444508A
申请号 :
CN201910661190.4
公开(公告)日 :
2019-11-12
申请日 :
2019-07-22
授权号 :
CN110444508B
授权日 :
2022-04-12
发明人 :
王颖王春水马占锋高健飞黄立张旭
申请人 :
武汉高芯科技有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖开发区黄龙山南路6号2号楼
代理机构 :
北京汇泽知识产权代理有限公司
代理人 :
秦曼妮
优先权 :
CN201910661190.4
主分类号 :
H01L21/687
IPC分类号 :
H01L21/687  H01L21/67  H01L21/18  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/67
专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21/683
用于支承或夹紧的
H01L21/687
使用机械装置的,例如卡盘、夹具或夹子
法律状态
2022-04-12 :
授权
2022-03-29 :
著录事项变更
IPC(主分类) : H01L 21/687
变更事项 : 发明人
变更前 : 王颖 王春水 马占锋 高健飞 黄立 张旭
变更后 : 黄立 王颖 王春水 马占锋 高健飞 张旭
2019-12-06 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 21/687
申请日 : 20190722
2019-11-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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