键合用晶圆、键合结构以及键合方法
实质审查的生效
摘要

本发明提供一种键合用晶圆、键合结构以及键合方法。所述键合方法包括如下步骤:提供键合用的第一晶圆和第二晶圆;在第一晶圆和第二晶圆上形成对准标记,对准标记包括晶圆表面图形或者晶圆通孔。至少有一个晶圆具有通孔,透过该晶圆通孔可以观察到另外一个晶圆的对准标记;以第一晶圆和第二晶圆上的对准标记为基准,将第一晶圆和第二晶圆键合。本发明由于采用晶圆通孔实现可见光同时观察两个晶圆对准标记的直接对准键合,不需要透过硅晶圆的红外辅助装置或者对两个晶圆分别预先定位的机械对准过程,并且对晶圆的透光性无特别要求。

基本信息
专利标题 :
键合用晶圆、键合结构以及键合方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114284243A
申请号 :
CN202111581105.7
公开(公告)日 :
2022-04-05
申请日 :
2021-12-22
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
曹语盟陈凡袁琨卢基存周华
申请人 :
光华临港工程应用技术研发(上海)有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区临港新片区环湖西二路888号C楼
代理机构 :
上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
孙佳胤
优先权 :
CN202111581105.7
主分类号 :
H01L23/544
IPC分类号 :
H01L23/544  H01L21/50  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L23/00
半导体或其他固态器件的零部件
H01L23/544
加到半导体器件上的标志,例如注册商标、测试图案
法律状态
2022-04-22 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 23/544
申请日 : 20211222
2022-04-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332