肖特基二极管及其制备方法
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摘要

本发明涉及半导体领域,特别涉及一种肖特基二极管及其制备方法。该方法包括:在衬底上外延n型氧化镓层;在所述n型氧化镓层制备金属掩膜层;在所述金属掩膜层上制备光刻胶并形成多个第二图形窗口,刻蚀形成凹槽结构;去除光刻胶,并对器件正面进行高温退火处理,形成多个带有凹槽结构的热氧化区;制备正面的阳极金属层和背面的阴极金属层;其中,所述阳极金属层的边缘位于最外侧的金属掩膜层上,且阳极金属层和金属掩膜层正所涵盖的区域下方包括至少一个带有凹槽结构的热氧化区。上述方法可以使阳极金属层和带有凹槽结构的热氧化区完全对齐,优化阳极结处电场,提高器件的耐高压特性并兼顾导通特性。

基本信息
专利标题 :
肖特基二极管及其制备方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111128746A
申请号 :
CN201911231347.6
公开(公告)日 :
2020-05-08
申请日 :
2019-12-05
授权号 :
CN111128746B
授权日 :
2022-06-07
发明人 :
王元刚吕元杰冯志红刘红宇宋旭波周幸叶谭鑫韩婷婷梁士雄
申请人 :
中国电子科技集团公司第十三研究所
申请人地址 :
河北省石家庄市合作路113号
代理机构 :
石家庄国为知识产权事务所
代理人 :
付晓娣
优先权 :
CN201911231347.6
主分类号 :
H01L21/34
IPC分类号 :
H01L21/34  H01L29/06  H01L29/417  H01L29/872  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/02
半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21/04
至少具有一个跃变势垒或表面势垒的器件,例如PN结、耗尽层、载体集结层
H01L21/34
具有H01L21/06,H01L21/16及H01L21/18各组不包含的或有或无杂质,例如掺杂材料的半导体的器件
法律状态
2022-06-07 :
授权
2020-06-02 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 21/34
申请日 : 20191205
2020-05-08 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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