掩膜板检查设备
专利权的终止
摘要

本实用新型公开了掩膜板检查设备,包括工作台和位移机构,所述位移机构安装在工作台的上端,所述位移机构和工作台通过螺母固定连接,通过在工作台上的位移机构上增加有一个聚光辅助装置,且该聚光辅助装置略高出检测台且安装在检测台平行左侧的位移机构上,该新型的聚光辅助装置可以通过接受照明摄像检测模组检验讯号而驱使该位移机构朝检测台方向进行位移,以使得该聚光辅助装置趋近于检测台上的被检测的掩膜板,从而使得被检测的掩膜板通过聚光灯珠的聚光照明作用能够被检测的更加具体清晰,从而通过聚光灯珠的辅助照明能够辅助照明摄像检测模组能够依序摄取掩膜板上的数据。

基本信息
专利标题 :
掩膜板检查设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920843931.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-06-05
授权号 :
CN210119446U
授权日 :
2020-02-28
发明人 :
李建成
申请人 :
茂维科技(成都)有限公司
申请人地址 :
四川省成都市郫都区红旗大道南段310号(菁蓉镇)
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN201920843931.6
主分类号 :
G01N21/84
IPC分类号 :
G01N21/84  G01N21/01  G03F1/84  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
法律状态
2021-05-14 :
专利权的终止
未缴年费专利权终止IPC(主分类) : G01N 21/84
申请日 : 20190605
授权公告日 : 20200228
终止日期 : 20200605
2020-02-28 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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