一种探测芯片分层的测试结构
授权
摘要
本实用新型公开了一种探测芯片分层的测试结构，属于芯片检测技术领域，包括机台，所述机台顶部一侧固定连接有固定板且固定板为两个，所述机台顶部活动连接有与固定板相对应的移动板，所述固定板和移动板表面一侧均焊接有支撑架，所述机台内侧壁安装有弹簧，其通过拉动调节杆拉伸弹簧以调节固定板和移动板之间的间距，在弹簧弹力的作用下，移动板和固定板相互夹持固定住芯片位置，通过调节移动板和固定板之间间距进而方便置放不同规格的芯片进行检测，滑槽滑动连接有滑块，可以移动滑块进而带动显微镜的移动，即可对芯片顶部不同的位置进行观测，避免调整位置时触碰芯片导致其位置偏移，需要重新定位固定的情况。
基本信息
专利标题 ：
一种探测芯片分层的测试结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921620340.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-09-25
授权号 ：
CN210923515U
授权日 ：
2020-07-03
发明人 ：
蔡晓丽
申请人 ：
江西齐拓芯片科技有限公司
申请人地址 ：
江西省九江市九江经济技术开发区出口加工区综合工业园3幢标准厂房
代理机构 ：
南昌金轩知识产权代理有限公司
代理人 ：
艾秋香
优先权 ：
CN201921620340.9
主分类号 ：
G01N21/95
IPC分类号 ：
G01N21/95
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
G01N21/95
特征在于待测物品的材料或形状
法律状态
2020-07-03 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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