一种快速测试光电探测器芯片装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种快速测试光电探测器芯片装置，包括方形底板、方形外壳、上料机构以及检测机构，还包括挑出机构和控制机构，所述方形底板水平设置，且所述方形底板的底部四角固定安装有四个对称设置的支腿，所述方形外壳固定安装在所述方形底板的上部，且所述方形外壳的底部和前部均为开口结构，所述上料机构固定安装在所述方形底板的上部，且所述上料机构位于所述方形外壳的内部，所述检测机构固定安装在所述方形外壳的内顶壁底部，且所述检测机构与所述上料机构相配合设置。本实用新型，其能够自动挑出检测的合格与不合格的光探测器芯片，并且可将合格与不合格的光探测器芯片分开收集，能够获得理想的检测效率。
基本信息
专利标题 ：
一种快速测试光电探测器芯片装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021113330.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-16
授权号 ：
CN212646896U
授权日 ：
2021-03-02
发明人 ：
李臆
申请人 ：
李臆
申请人地址 ：
四川省成都市武侯区武侯祠大街256号2栋2单元5楼5号
代理机构 ：
常州盛鑫专利代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
刘燕芝
优先权 ：
CN202021113330.9
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-03-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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