一种用于芯片测试分选叠料检测的装置
授权
摘要
本实用新型涉及芯片检测技术领域，公开了一种用于芯片测试分选叠料检测的装置，其包括控制系统、固定座、安装板和安装在所述安装板上的检测器，所述控制系统与所述检测器电连接，所述固定座固定安装在料盘导轨的一侧，所述固定座与所述安装板的一端可转动地连接，所述安装板的底板设有至少两个滚轮。本实用新型提供的用于芯片测试分选叠料检测的装置检测正确率高，误判几率低。
基本信息
专利标题 ：
一种用于芯片测试分选叠料检测的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921994713.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-11-18
授权号 ：
CN211330315U
授权日 ：
2020-08-25
发明人 ：
刘飞林宜龙唐召来邓睿王轶云涂前超
申请人 ：
深圳格兰达智能装备股份有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市坪山新区大工业区翠景路33号格兰达装备产业园
代理机构 ：
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 ：
颜希文
优先权 ：
CN201921994713.9
主分类号 ：
B07C5/02
IPC分类号 ：
B07C5/02
IPC结构图谱
B
B部——作业；运输
B07
将固体从固体中分离；分选
B07C
邮件分拣；单件物品的分选，或适于一件一件地分选的散装材料的分选，如拣选
B07C5/00
按照物品或材料的特性或特点分选，例如用检测或测量这些特性或特点的装置进行控制；用手动装置，例如开关，来分选
B07C5/02
分选前的措施，例如在流水线中排列物体，定方位
法律状态
2020-08-25 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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