一种芯片测试用夹持设备
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摘要

本实用新型公开了一种芯片测试用夹持设备,其特征在于,包括底座,所述底座的顶部卡接有护罩,所述护罩的内部设置有两排平行的气管,所述底座的表面设置有滑槽,所述滑槽的内部安装有与所述滑槽相滑动的滑杆,所述滑杆的顶部固定在支脚的底部。通过气泵连接的冷热气源能够根据需要对护罩的内部进行输送冷气或者热气,由于护罩和底座之间密封,这样就能够对芯片直接加热或者制冷,让芯片达到输入到护罩内部的温度,挡板上的芯片取出安装入设备中查看芯片在较高温度的情况还能够继续工作,较低的温度下能够继续工作,通过设置的螺杆和杆槽的配合能够调节夹持板与挡板之间的位置,起到调节夹持板的位置,通过夹持板抵触芯片侧壁将芯片夹紧。

基本信息
专利标题 :
一种芯片测试用夹持设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201922084895.2
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-11-26
授权号 :
CN211348536U
授权日 :
2020-08-25
发明人 :
李重王利平鄢开拓高深
申请人 :
安徽芯智科技有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市高新区习友路3333号中国(合肥)国际智能语音产业园研发中心楼611-111室
代理机构 :
合肥正则元起专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
韩立峰
优先权 :
CN201922084895.2
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/04  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-08-25 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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