一种半导体测试探针固定装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种半导体测试探针固定装置，属于半导体测试技术领域，包括第一弧形板，所述第一弧形板一侧外壁开设有若干个等距离的第一探针槽，且每个第一探针槽外壁均焊接有若干个等距离的第一固定槽，所述第一固定槽外壁通过注胶安装有第一橡胶块。本实用新型中通过第一弧形板安装有多个等距离的第一磁铁片，第二弧形板安装有多个等距离的第二磁铁片，且第一磁铁片与第二磁铁片的安装方向相反，第一磁铁片与第二磁铁片的相互吸引使第一弧形板与第二弧形板紧紧贴合在一起，通过第一橡胶块与第二橡胶块将探针固定，使探针不易脱落，并具有缓冲减震的作用，避免工作人员在放置仪器时，探针受损。
基本信息
专利标题 ：
一种半导体测试探针固定装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201922348424.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-12-24
授权号 ：
CN211603438U
授权日 ：
2020-09-29
发明人 ：
范彩凤
申请人 ：
上海北臻电子科技有限公司
申请人地址 ：
上海市金山区枫泾镇环东一路65弄2号3541室
代理机构 ：
上海海贝律师事务所
代理人 ：
范海燕
优先权 ：
CN201922348424.8
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/073 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-09-29 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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