半导体器件的制造方法和电子装置
实质审查的生效
摘要
一种半导体器件的制造方法和电子装置,制造方法包括:形成MEMS器件和第一牺牲层,MEMS器件包括固定结构,固定结构包括基底和环绕基底的围壁结构,MEMS器件还包括悬空设置于基底上的可动结构、以及位于可动结构和固定结构之间的第二牺牲层,第一牺牲层用于支撑可动结构与固定结构分离,且去除第二牺牲层的工艺对第二牺牲层的去除速率大于对第一牺牲层的去除速率;去除第二牺牲层;去除第二牺牲层后,去除第一牺牲层。本发明通过形成第一牺牲层,在去除第二牺牲层的过程中,第一牺牲层用于支撑可动结构与固定结构分离,从而降低所述可动结构与固定结构之间发生表面贴合或黏连的概率,从而提高工艺可靠性,相应有利于提高半导体器件的性能。
基本信息
专利标题 :
半导体器件的制造方法和电子装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114314499A
申请号 :
CN202011057167.3
公开(公告)日 :
2022-04-12
申请日 :
2020-09-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
桂珞丁敬秀
申请人 :
中芯集成电路(宁波)有限公司
申请人地址 :
浙江省宁波市北仑区小港街道安居路335号3幢、4幢、5幢
代理机构 :
上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
高静
优先权 :
CN202011057167.3
主分类号 :
B81C1/00
IPC分类号 :
B81C1/00 B81B7/02 H01L27/146
IPC结构图谱
B
B部——作业;运输
B81
微观结构技术
B81C
专门适用于制造或处理微观结构的装置或系统的方法或设备
B81C1/00
在基片内或其上制造或处理的装置或系统
法律状态
2022-04-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : B81C 1/00
申请日 : 20200930
申请日 : 20200930
2022-04-12 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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