半导体结构及其形成方法
实质审查的生效
摘要

本发明实施例提供了一种半导体结构及其形成方法,所述半导体结构的形成方法,在完成栅极结构的加工后,还进行支撑层的刻蚀,得到所述剩余支撑层,然后再通过形成覆盖剩余支撑层的第二介质层,形成用于开设第一沟槽的加工平台,由于第一介质层和第二介质层的材料相同,在进行第一沟槽的形成时,可以同时去除源漏掺杂区上方的第一介质层和第二介质层,以及剩余支撑层上方的第二介质层,从而可以使第一沟槽中的部分段的截面尺寸增大,并可以进一步增大在第一沟槽内形成的源漏导电插塞的部分段的截面尺寸,以实现源漏掺杂区的电连接的同时,减小了所述源漏导电插塞的电阻。

基本信息
专利标题 :
半导体结构及其形成方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114446878A
申请号 :
CN202011194876.6
公开(公告)日 :
2022-05-06
申请日 :
2020-10-30
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
赵炳贵
申请人 :
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司;中芯国际集成电路制造(北京)有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区张江路18号
代理机构 :
上海知锦知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
李丽
优先权 :
CN202011194876.6
主分类号 :
H01L21/8234
IPC分类号 :
H01L21/8234  H01L27/088  
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/70
由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L21/77
在公共衬底中或上面形成的由许多固态元件或集成电路组成的器件的制造或处理
H01L21/78
把衬底连续地分成多个独立的器件
H01L21/82
制造器件,例如每一个由许多元件组成的集成电路
H01L21/822
衬底是采用硅工艺的半导体的
H01L21/8232
场效应工艺
H01L21/8234
MIS工艺
法律状态
2022-05-24 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 21/8234
申请日 : 20201030
2022-05-06 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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