一种激光等离子体三波长干涉诊断装置及其调节方法
公开
摘要

本发明公开了一种激光等离子体三波长干涉诊断装置及其调节方法。装置包括探测光源系统、等离子体激励系统、探测光路系统以及接收系统,将激光激励装置产生的激光等离子体置于马赫—曾德尔干涉装置的探测光路中,探测光源装置产生的白色脉冲光源作为探测光,马赫—曾德尔干涉仪将探测光分为两束,一束穿过激光等离子体区域,另外一束作为参考光,两束光经过马赫—曾德尔干涉仪后相遇,接收系统包括RGB滤光光栅和彩色CCD,相遇后的光通过RGB滤光光栅分为三束不同波长的光,形成三幅干涉条纹图。该装置能够同时获得三幅携带激光等离子体相位信息的干涉条纹图,获取更多的数据图,使结果更加精确、有效且全面。

基本信息
专利标题 :
一种激光等离子体三波长干涉诊断装置及其调节方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114609088A
申请号 :
CN202011430572.5
公开(公告)日 :
2022-06-10
申请日 :
2020-12-09
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
张宏超武子凤陆健
申请人 :
南京理工大学
申请人地址 :
江苏省南京市孝陵卫200号
代理机构 :
南京理工大学专利中心
代理人 :
张祥
优先权 :
CN202011430572.5
主分类号 :
G01N21/45
IPC分类号 :
G01N21/45  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率;影响相位的性质,例如光程长度
G01N21/45
利用干涉量度法,利用纹影方法
法律状态
2022-06-10 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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