一种集成电路高温测试区吹气装置
授权
摘要
本实用新型提出了一种集成电路高温测试区吹气装置，包括底座，所述底座上设有测试轨道，沿所述测试轨道设有对称设置的金手指，其特征在于：所述测试轨道上方设有轨道盖，所述轨道盖上设有气体分流板，所述气体分流板上设有进气接头和用于对测试轨道输送高温气体的出气孔，所述进气接头与所述出气孔连通设置。本实用新型所提供的一种集成电路高温测试区吹气装置；其上的轨道盖上设有气体分流板，气体分流板上设有进气接头和用于对测试轨道输送高温气体的出气孔，进气接头与出气孔连通设置，具结构简单、操作方便、保温效果均匀的特点。
基本信息
专利标题 ：
一种集成电路高温测试区吹气装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020187121.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-02-20
授权号 ：
CN211826360U
授权日 ：
2020-10-30
发明人 ：
梁大明
申请人 ：
上海中艺自动化系统有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区郭守敬路498号14幢22301-642座
代理机构 ：
上海思牛达专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
丁剑
优先权 ：
CN202020187121.2
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2020-10-30 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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