本实用新型公开了一种集成电路的耐温性测试装置，属于集成电路技术领域，包括底板，所述底板的顶部安装有支撑柱、测试组件和传动带，所述支撑柱的顶部固定安装有轨道板，所述测试组件上设有定位台，所述定位台的顶部安装有两个竖板，两个竖板之间固定安装有多个水平设置的横轴，两个竖板转动安装有驱动杆，驱动杆位于横轴的下方，横轴上滑动套设有两个夹持板，夹持板与驱动杆螺纹连接，所述轨道板上滑动安装有竖直设置的驱动板，驱动板的一侧滑动安装有竖直设置的升降杆；本实用新型实现对集成电路的电动化固定，夹持稳定，方便测试的进行，实现流水线式测试，提高测试效率，极大的节省人工。