一种贴片式二极管分立器件测试筛选装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种贴片式二极管分立器件测试筛选装置，包括安装座、顶板以及滑块，所述安装座上表面固定连接有盖板；本实用新型通过在两个支杆上方设有的压板，并通过电动推杆的驱动作用实现压板的上下位移，从而使得批量检测的SMD器件二极管引脚在通过压板与顶板的挤压作用实现与顶板下方通过滑块设有的弹性导片实施有效接触，进而满足了不同SMD器件二极管的引脚在通过弹性导片通过电信号的接触传输实施检测时得以更加灵活，从而极大的弥补了传统方式上针对不同SMD器件二极管实施老化或反偏检测筛选测试的不足，且更进一步的提升了各SMD器件的检测筛选效率从而有效的节约了时间成本提供用户的作业效率。
基本信息
专利标题 ：
一种贴片式二极管分立器件测试筛选装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020543719.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-04-14
授权号 ：
CN212083595U
授权日 ：
2020-12-04
发明人 ：
曹孙根
申请人 ：
安徽钜芯半导体科技有限公司
申请人地址 ：
安徽省池州市经济技术开发区双龙路2号
代理机构 ：
合肥中博知信知识产权代理有限公司
代理人 ：
吴栋杰
优先权 ：
CN202020543719.0
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26 G01R1/04 H01L21/67
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2020-12-04 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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