一种芯片测试机的翻转机构
授权
摘要

本实用新型公开了一种芯片测试机的翻转机构,包括工作台,所述工作台顶部的前侧和后侧分别设置有固定架和伸缩架,所述固定架两侧的底部均固定连接有固定套,所述工作台的顶部设置有与固定套配合使用的固定机构。本实用新型通过设置工作台、固定架、伸缩架、固定套、固定机构、夹持架、活动杆、旋转杆、旋钮、定位机构、定位槽、测试机本体、把手、滑块、滑槽、通口和通孔的配合使用,解决了现有的芯片测试机不便于使用者使用,在对芯片进行测试时,需要对芯片的正反两面进行测试,造成使用者多次对芯片进行拆装,会耗费使用者大量的时间和精力,影响使用者使用的问题,该芯片测试机的翻转机构,具备便于使用者的优点。

基本信息
专利标题 :
一种芯片测试机的翻转机构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020618479.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-20
授权号 :
CN213041951U
授权日 :
2021-04-23
发明人 :
吴国强周鑫鑫赵丽贾淑芳
申请人 :
氩芯科技(杭州)有限公司
申请人地址 :
浙江省杭州市杭州经济技术开发区白杨街道6号大街452号2号楼A1913-1914
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202020618479.6
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  G01R1/02  G01R1/04  B25H1/10  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-04-23 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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