一种芯片测试机的翻转限位设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种芯片测试机的翻转限位设备，包括底板,底板的顶部对称固定连接有承载板，承载板一侧的顶部转动穿插套接有第一主轴，两个第一主轴之间对称设置有夹板，第一主轴外壁的一侧固定连接有第一定位块，两个第一定位块位于两个承载板相悖的一侧，两个承载板相悖一侧的顶部对称固定连接有第二定位块，两个承载板之间的底部转动套接有第二主轴。本实用新型利用两个第一主轴的设置方式，第一主轴的外壁固定连接有第一定位块，第一定位块在两个第二定位块的作用下，第一主轴只能够翻转一百八十度，从而使第一定位与不同的第二定位块接触时，芯片即翻转为不同的平面，从而便于芯片检测，提高其检测效。
基本信息
专利标题 ：
一种芯片测试机的翻转限位设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021072314.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-11
授权号 ：
CN212646895U
授权日 ：
2021-03-02
发明人 ：
朱松
申请人 ：
苏州三像智能科技有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市工业园区唯新路69号一能科技园5号楼
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021072314.X
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-03-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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