本实用新型属于测试设备领域，尤其是一种带限位结构的芯片测试装置，包括基座，所述基座的顶部固定安装有安装架，安装架的底部内壁上固定安装有测试探针，基座的顶部开设有第一槽，第一槽内滑动安装有支撑杆，支撑杆的顶端延伸至基座的上方并固定安装有定位座，定位座的顶端开设有定位槽，定位槽的两侧内壁上均开设有两个对称设置的第一孔，第一孔内滑动安装有横杆，位于同一侧的两个横杆的一端延伸至定位槽内并固定安装有夹持板。本实用新型设计合理，通过夹持板能够对芯片进行夹持固定并定位，通过对定位座的移动，定位座能够带动芯片进行移动，从而能够对芯片不同的位置进行测试，能够测试的效率。