一种带有限位机构的芯片测试装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种带有限位机构的芯片测试装置,包括底座和固定设置在底座上方的固定板,所述固定板的底部转动设置有伸缩杆,所述伸缩杆的外侧固定连接有套环,且套环的端面固定设置有弹性件,所述伸缩杆和弹性件的伸缩端设置有同一限位块。本实用新型中,固定板上设置有伸缩杆和连接件,伸缩杆上设置有弹性件和限位块,连接件采用橡胶轮或齿轮,相邻伸缩杆的连接件相互接触,当一个伸缩杆转动时,带动剩余所有的伸缩杆联动,此设计可以使伸缩杆快速调节至适配芯片大小的尺寸,再拉动伸缩杆,在弹性件的收缩下由限位块夹住芯片,故本装置可以对多种尺寸的芯片进行限位,增强了装置的实用性。
基本信息
专利标题 :
一种带有限位机构的芯片测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021612514.X
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-06
授权号 :
CN212965290U
授权日 :
2021-04-13
发明人 :
姚静曾龙王谦
申请人 :
武汉源和泳涵科技有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖高新光谷大道国际企业中心文韬楼A座406室
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202021612514.X
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-04-13 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载