一种带限位结构的芯片测试装置
授权
摘要
本实用公开的一种带限位结构的芯片测试装置，包括底板，所述底板的顶部设有第一支撑板，所述第一支撑板的底部与底板的顶部固定连接，所述底板的上方设有顶板，所述顶板的一侧与第一支撑板的一侧固定连接，所述顶板的底部设有芯片测试探针，所述芯片测试探针与第一支撑板之间设有调节组件，所述底板的底部固定连接有若干支撑腿，所述支撑腿的底部固定连接有固定板，所述底板和芯片测试探针之间设有测试板，所述测试板与底板之间设有升降组件，所述测试板上设有限位机构。本实用所述的一种带限位结构的芯片测试装置，芯片测试探针可以探到芯片上不同位置的测试点，提高了测试范围，操作简单，便于实际使用。
基本信息
专利标题 ：
一种带限位结构的芯片测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020821945.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-18
授权号 ：
CN212872757U
授权日 ：
2021-04-02
发明人 ：
孙文檠
申请人 ：
马鞍山芯海科技有限公司
申请人地址 ：
安徽省马鞍山市郑蒲港新区综保一路56号
代理机构 ：
盐城平易安通知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
陈彩芳
优先权 ：
CN202020821945.0
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-04-02 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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