一种可适用高频测试刀片探针结构
授权
摘要

本实用新型涉及探针卡技术领域,尤其为一种可适用高频测试刀片探针结构,包括双通道陶瓷刀片、地端信号以及探针,所述双通道陶瓷刀片的卡槽内设有探针,所述双通道陶瓷刀片和探针连接处设有焊锡,所述双通道陶瓷刀片一侧设有刀片针引出信号,所述刀片针引出信号远离双通道陶瓷刀片的一端连接有贴片电容,所述贴片电容远离刀片针引出信号的一端连接有地端信号,所述双通道陶瓷刀片远离探针的一侧下端连接有印刷线路板,贴片电容和刀片针引出信号、地端信号之间焊接连接并呈串联结构,使得贴片电容更接近于探针的针尖,提高滤波的效果,可明显减少测试波动,提高针卡测试的频率,结构简单,维护较容易,整体效果好。

基本信息
专利标题 :
一种可适用高频测试刀片探针结构
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020730651.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-05-07
授权号 :
CN213302302U
授权日 :
2021-05-28
发明人 :
王佳明
申请人 :
上海依然半导体测试有限公司
申请人地址 :
上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区碧波路500号204室
代理机构 :
代理人 :
优先权 :
CN202020730651.7
主分类号 :
G01R1/067
IPC分类号 :
G01R1/067  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
G01R1/06
测量引线;测量探针
G01R1/067
测量探针
法律状态
2021-05-28 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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