一种半导体器件故障检测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种半导体器件故障检测装置，包括传动框，传动框底部的中心固定安装有第一电动伸缩杆，第一电动伸缩杆的活塞杆延伸至传动框的内部且固定连接有检测板，本实用新型所达到的有益效果是：本实用新型通过设置相互传动的输送辊，能够很好的对需要进行故障检测的半导体器件进行输送，当输送至指定的位置时，通过检测板将半导体器件进行托举，然后通过双向丝杆传动带动设备两端的电极与半导体器件的引脚进行接触，同时配合外界的电压检测设备，能够快速的对半导体器件进行故障检测，此外通过气缸传动，可以将存在故障的半导体器件进行收纳，同时不存在故障的半导体器件将会继续进行输送，从而能够快速自动的完成整个故障检测过程。
基本信息
专利标题 ：
一种半导体器件故障检测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020737415.8
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-05-08
授权号 ：
CN212275880U
授权日 ：
2021-01-01
发明人 ：
康军
申请人 ：
陕西麦特检测技术服务有限公司
申请人地址 ：
陕西省西安市高新区丈八东路汇鑫IBCB座502室
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202020737415.8
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-01-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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