用于目检半导体器件的定位式看料板
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于目检半导体器件的定位式看料板，包括看料板主体(1)和定位凸缘(2)；看料板主体上表面设有下沉式框架槽(11)，下沉式框架槽沿看料板主体长度方向设置，并贯穿看料板主体一端形成开口结构；定位凸缘凸出设在看料板主体一端边缘处，定位凸缘沿看料板主体宽度方向设置且位于开口结构的下方，定位凸缘能匹配嵌装在料盒的其中一个卡槽中，使看料板主体垂直设置在料盒的外侧壁上，且与该卡槽上方相邻的另一个卡槽中的框架能通过开口结构插入在下沉式框架槽内。本实用新型通过定位凸缘快速且精确的定位看料板主体，使框架插入看料板主体内，便于框架稳定取出和目视检验，提高工作效率，确保产品品质。
基本信息
专利标题 ：
用于目检半导体器件的定位式看料板
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202020977768.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-02
授权号 ：
CN211828720U
授权日 ：
2020-10-30
发明人 ：
陈建华
申请人 ：
青岛泰睿思微电子有限公司
申请人地址 ：
山东省青岛市即墨市服装工业园孔雀河三路56号
代理机构 ：
上海唯源专利代理有限公司
代理人 ：
曾耀先
优先权 ：
CN202020977768.5
主分类号 ：
H01L21/68
IPC分类号 ：
H01L21/68 H01L21/66
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/67
专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置；专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21/68
用于定位、定向或对准的
法律状态
2020-10-30 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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