测试结构

授权

摘要

本申请提供了一种测试结构，该测试结构不包括开关，该测试结构包括：待测试结构，包括多个依次串联的待测试器件组，各待测试器件组包括多个并联的待测试的阻变器件；两个测试电极，分别为第一测试电极和第二测试电极，第一测试电极与待测试结构的一端电连接，第二测试电极与待测试结构的另一端电连接，从而同时检查多个待测试的阻变器件，提高了测试效率，并且测试结构不包括开关，降低了测试成本，并且一个待测试的阻变器件失效会导致待测试结构的阻值大幅降低，使得测试结构对机台精度要求低，进而解决了现有技术中的测试MTJ的方法难以同时达到测试效率高、测试成本较低且对机台精度要求低的问题。

基本信息

专利标题：

测试结构

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021249359.X

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-06-30

授权号：

CN212675922U

授权日：

2021-03-09

发明人：

何世坤哀立波任云翔

申请人：

浙江驰拓科技有限公司

申请人地址：

浙江省杭州市临安区青山湖街道励新路9号

代理机构：

北京康信知识产权代理有限责任公司

代理人：

霍文娟

优先权：

CN202021249359.X

主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

G11C29/56