本实用新型涉及一种测试结构，所述测试结构包括：第一子测试结构，包括第一串联结构，所述第一串联结构包括第一加热器，以及位于所述第一加热器顶部表面的第一相变层，所述第一加热器的电阻值为待测阻值；第二子测试结构，包括第二串联结构，所述第二串联结构包括第二加热器，以及位于所述第二加热器顶部表面的第二相变层，所述第二相变层与所述第一相变层的阻值相同，所述第二加热器的阻值小于所述第一加热器的阻值，所述第一加热器的阻值与所述第二加热器的阻值之比大于设定值；以及所述第一子测试结构和第二子测试结构内的电连接线路的电阻相同。上述测试结构能够准确测量相变存储单元内加热器的阻值。