测试结构

授权

摘要

本申请提供了一种测试结构，包括：待测试结构，包括两个MTJ，分别为第一MTJ和第二MTJ；第一测试电极组，至少包括一个第一测试电极，第一测试电极与第一MTJ电连接，第一测试电极组用于给第一MTJ提供电压，使第一MTJ发生翻转；第二测试电极组，至少包括一个第二测试电极，第二测试电极与第二MTJ电连接，第二测试电极组用于给第二MTJ提供电压，使第二MTJ发生翻转，其中，第一测试电极的个数和第二测试电极的个数相同，且第一测试电极和第二测试电极相同。该测试结构避免了因第一测试电极和第二测试电极的差异对MTJ均一性测试结果造成影响，有效地减小了测试过程中其他因素导致的测试误差，保证了测试结果更加准确。

基本信息

专利标题：

测试结构

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202022218828.8

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-09-30

授权号：

CN213183604U

授权日：

2021-05-11

发明人：

哀立波杨晓蕾

申请人：

浙江驰拓科技有限公司

申请人地址：

浙江省杭州市临安区青山湖街道励新路9号

代理机构：

北京康信知识产权代理有限责任公司

代理人：

霍文娟

优先权：

CN202022218828.8

主分类号：

G11C29/02

IPC分类号：

G11C29/02