本实用新型属于半导体器件检测技术领域，尤其为一种半导体器件测量用夹具，针对在现有技术中的夹具在使用时仅仅只能将半导体器件夹紧，不能对半导体器件进行旋转调整，不便于操作使用的问题，现提出如下方案，其包括底板，所述底板的顶部两侧均固定安装有支撑板，两个支撑板相互靠近的一侧均转动安装有第一转轴，两个第一转轴中位于右侧的第一转轴的外侧固定安装有圆盘，圆盘的外侧开设有多个固定槽。本实用新型结构设计合理，操作简单，便于对半导体器件夹紧，并且在夹紧半导体器件的过程中，可以对半导体器件起到良好的缓冲防护作用，避免了出现损坏半导体器件的问题，且便于半导体器件调整角度测量，便于操作使用。