测量半导体发光器件用的温控座
专利权的终止
摘要

本实用新型涉及一种具有温控功能和避免结露的测量半导体发光器件用的温控座。它包括温控装置和与温控装置相配合的密封罩,被测试件可置于密封罩内与温控装置相配合。本实用新型具有的有益效果:1.温控装置的设置,使被测试件始终处于相对恒温状态,测试结果准确;2.设有密封罩,可以使被测试件与周围环境隔绝,避免受周围环境的影响;3.密封件的设置,使密封罩的密封效果更好;4.抽气口的设置,真空机通过抽气口连接到密封罩上,可将密封罩内空气抽取,减少水汽,避免水汽凝结到被测试件上。

基本信息
专利标题 :
测量半导体发光器件用的温控座
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN200720303111.5
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2007-12-10
授权号 :
CN201133928Y
授权日 :
2008-10-15
发明人 :
牟同升
申请人 :
杭州浙大三色仪器有限公司
申请人地址 :
310013浙江省杭州市西溪路525号浙大科技园G楼浙大三色
代理机构 :
浙江翔隆专利事务所
代理人 :
戴晓翔
优先权 :
CN200720303111.5
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  G05D23/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2018-01-23 :
专利权的终止
专利权有效期届满IPC(主分类) : G01R 31/26
申请日 : 20071210
授权公告日 : 20081015
2008-10-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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