一种半导体器件测量用夹具
授权
摘要
本实用新型公开了一种半导体器件测量用夹具，包括夹具主体与弹片，所述夹具主体上开设有与半导体器件适配的安置槽，所述弹片安装于所述夹具主体上且与所述安置槽对应，所述弹片适于抵紧放置在所述安置槽内的半导体器件，该半导体器件测量用夹具能够避免人工搬运过程中，使用者与半导体器件的管脚或其他突出部位接触导致管脚等部位变形，影响检测结果。
基本信息
专利标题 ：
一种半导体器件测量用夹具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201921414376.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-08-28
授权号 ：
CN210374866U
授权日 ：
2020-04-21
发明人 ：
柯善桓曾宪洪
申请人 ：
深圳赛意法微电子有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市福田区福保街道福田保税区桃花路16号
代理机构 ：
广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙)
代理人 ：
杨艳
优先权 ：
CN201921414376.1
主分类号 ：
G01B5/00
IPC分类号 ：
G01B5/00 G01B5/02 G01B5/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
法律状态
2020-04-21 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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