一种便于定位的射频芯片用测试装置

授权

摘要

本实用新型公开了一种便于定位的射频芯片用测试装置，包括底座，所述底座的两侧均活动连接有固定块，所述固定块的两侧均设置有连接块，所述连接块靠近底座的顶部与底座固定连接，所述固定块的顶部固定连接有测试设备，两个连接块相对的一侧均活动连接有连接机构，两个连接机构相对的一侧均固定连接有限位机构。本实用新型通过设置底座、固定块、连接块、测试设备、燕尾块、燕尾槽、连接机构、连接板、活动杆、弹簧、限位机构、活动板、限位块、限位槽、活动孔、活动槽、滑块、滑槽、限位孔、固定板、固定槽和固定孔的配合使用，解决了现有的芯片在测试时数值不准确，不方便使用者对芯片进行测试，不方便使用者使用的问题。

基本信息

专利标题：

一种便于定位的射频芯片用测试装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN202021777840.6

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2020-08-21

授权号：

CN213544744U

授权日：

2021-06-25

发明人：

陈莹

申请人：

深圳市伟烽恒科技有限公司

申请人地址：

广东省深圳市宝安区西乡街道共乐社区铁仔路华丰共乐第二工业区第二栋厂房2层

代理机构：

深圳市中科创为专利代理有限公司

代理人：

彭西洋

优先权：

CN202021777840.6

主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R31/28 G01R1/04