碳化硅籽晶生长表面的图形化处理装置
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摘要
本实用新型公开了一种碳化硅籽晶生长表面的图形化处理装置。所述处理装置包括:壳体,所述壳体内具有一刻蚀腔体,所述刻蚀腔体一侧设有刻蚀气体入口,另一侧设有压力控制出口;托盘,位于所述刻蚀腔体内,以承托所述待处理碳化硅籽晶;阻挡片,位于所述刻蚀腔体内,并位于所述托盘的上方,所述阻挡片的下表面与所述待处理的碳化硅籽晶的上表面之间具有250μm至1000μm的间隙;控制单元,位于所述壳体内,并连接所述刻蚀腔体,以控制所述刻蚀气体刻蚀所述待处理的碳化硅籽晶,而形成预设槽沟图形。根据本实用新型提供的处理装置保证了碳化硅籽晶在后续生长中A面根据有成核和延伸的优势,避免了延C向的缺陷延伸,提高晶体质量。
基本信息
专利标题 :
碳化硅籽晶生长表面的图形化处理装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021793318.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-08-25
授权号 :
CN213086168U
授权日 :
2021-04-30
发明人 :
薛卫明马远潘尧波
申请人 :
中电化合物半导体有限公司
申请人地址 :
浙江省宁波市杭州湾新区兴慈一路290号3号楼105-1室
代理机构 :
上海光华专利事务所(普通合伙)
代理人 :
夏苗苗
优先权 :
CN202021793318.7
主分类号 :
C30B29/36
IPC分类号 :
C30B29/36 C30B33/12 C30B23/00
相关图片
IPC结构图谱
C
C部——化学;冶金
C30
晶体生长
C30B
单晶生长;共晶材料的定向凝固或共析材料的定向分层;材料的区熔精炼;具有一定结构的均匀多晶材料的制备;单晶或具有一定结构的均匀多晶材料;单晶或具有一定结构的均匀多晶材料之后处理;其所用的装置
C30B29/00
以材料或形状为特征的单晶或具有一定结构的均匀多晶材料
C30B29/10
无机化合物或组合物
C30B29/36
碳化物
法律状态
2021-04-30 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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