一种用于芯片检测的吸附台
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于芯片检测的吸附台，包括底座，所述底座的顶部设有对称设置的两个滑槽，所述滑槽内转动连接有螺杆，所述螺杆的一端贯穿滑槽的内壁并固定连接有旋钮，所述旋钮的一端滑动插设有卡杆，所述底座的外壁上环绕设有与卡杆对应的多个卡槽，所述螺杆上螺纹套接有滑块，所述滑槽内固定连接有滑杆，所述滑块上设有与滑杆对应的滑口，所述滑块的顶部固定连接有放置板，所述放置板上设有多个吸附口。本实用新型中通过调节机构的设置，使吸附机构可以进行自由调节，从而提出了芯片的检测效率。
基本信息
专利标题 ：
一种用于芯片检测的吸附台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021868138.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-01
授权号 ：
CN213275863U
授权日 ：
2021-05-25
发明人 ：
常浩
申请人 ：
镇江矽佳测试技术有限公司
申请人地址 ：
江苏省镇江市高新区南徐大道298号A座高新大厦
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202021868138.0
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2021-05-25 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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