一种用于芯片测试的吸附台
授权
摘要
本实用新型涉及一种用于芯片测试的吸附台，包括吸附台本体，所述吸附台本体的一端横向设置有加热棒安装孔及热电偶安装孔，吸附台本体的前侧壁设置有气路槽，吸附台本体的另一端设置有与真空泵相连接并连通气路槽的吸气通道，吸附台本体的前侧还设置有封盖气路槽并可升降调节的挡板，所述挡板与吸附台本体之间沿横向间隔竖向设置有若干个与气路槽相连通并用于吸附芯片的真空泵吸气孔。该吸附台可以对芯片进行高低温测试。
基本信息
专利标题 ：
一种用于芯片测试的吸附台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN201920597308.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2019-04-28
授权号 ：
CN210347687U
授权日 ：
2020-04-17
发明人 ：
黄和平
申请人 ：
福建中科光芯光电科技有限公司
申请人地址 ：
福建省泉州市石狮市高新区创新创业中心11#厂房1层
代理机构 ：
福州元创专利商标代理有限公司
代理人 ：
蔡学俊
优先权 ：
CN201920597308.7
主分类号 ：
G01R1/02
IPC分类号 ：
G01R1/02 G01R1/04 G01R31/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R1/00
包括在G01R5/00至G01R13/00或G01R31/00组中的各类仪器或装置的零部件
G01R1/02
一般结构零部件
法律状态
2020-04-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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