一种功率单元小批老化测试可移动式机柜系统装置
授权
摘要
本实用新型属于老化测试领域，尤其是一种功率单元小批老化测试可移动式机柜系统装置，包括柜体，所述柜体的一侧固定安装有温控箱室，柜体内安装有低压控制系统和变压器，且温控箱室与变压器电性连接。本实用新型满足老化时间能够连续进行半年之久，能够远程快速切换冷热交替环境，远程设置温湿度，实时远程监控传输数据，且设备能够移动到任何位置。
基本信息
专利标题 ：
一种功率单元小批老化测试可移动式机柜系统装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022086342.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-09-22
授权号 ：
CN213181827U
授权日 ：
2021-05-11
发明人 ：
韦思贺
申请人 ：
新拓尼克（北京）科技研发中心有限公司
申请人地址 ：
北京市朝阳区望京利泽中园二区203号内3号楼三层1305室
代理机构 ：
北京正理专利代理有限公司
代理人 ：
王德桢
优先权 ：
CN202022086342.3
主分类号 ：
G01R31/00
IPC分类号 ：
G01R31/00 G01R1/02 G05D23/19
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置；电故障的探测装置；以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置；在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66；线路传输系统的测试入H04B3/46）
法律状态
2021-05-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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